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Sistema di prova termoelettrico dei parametri a film sottile (MRS-3RT)
Il sistema di prova termoelettrica dei parametri a pellicola sottile MRS-3RT è stato progettato appositamente per lo strumento di misura del coefficie
Dettagli del prodotto

Caratteristiche del prodotto

Misure del coefficiente Seebeck e della resistività specificamente per i materiali a film sottile.

La gamma di temperatura dell'ambiente di prova raggiunge 81K~700K.

Utilizzando il metodo dinamico per misurare il coefficiente Seebeck si evitano errori sistematici nella misurazione della differenza di temperatura causati dalla misurazione statica, con conseguente misurazione più accurata.

Misurare la resistività utilizzando il metodo a quattro linee.

● Il design del morsetto facilita la sostituzione del campione e migliora l'efficienza.

Il software è facile da usare e abbastanza intelligente per raggiungere la modalità completamente automatica.

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